低温/高温暴露耐久试验是用来模拟线束总成在低温不带载情况下,比如整车或线束总成存储运输或者整车暴露环境情况下,被测试线束总成在极端低温环境下通过指定的时间期限后,以用来研制线束系统总成相关零部件的功能表现.
比如低温环境下的零部件功能失效,包括塑料和金属材料的材料特性改变,比如弹性应力改变和塑料件的绝缘性能改变,这些改变可能会引起线束总成零件的物理性能改变.文章源自线束工程师之家-https://www.suncve.com/low-temperature-high-temperature-exposure-durability-test/
低温暴露耐久试验:在常温环境下,将线束总成(不需要与用电器端对配)放入低温箱内,将低温箱的温度调整至-40℃,待低温温度稳定后,开始72小时的低温存放.在完成低温存放后,将线束总成放在室温23±5℃环境下1小时,保证试样温度达到稳定.文章源自线束工程师之家-https://www.suncve.com/low-temperature-high-temperature-exposure-durability-test/
高温暴露耐久试验:在常温环境下,将线束总成(不需要与用电器端对配)放入高温箱内,将温度调整中Tmax(该产品最大工作温度)＋10℃,待高温温度稳定后,开始72小时的高温存放.在完成高温存放后,将线束总成在室温23±5℃环境下1小时,保证试样温度达到稳定.文章源自线束工程师之家-https://www.suncve.com/low-temperature-high-temperature-exposure-durability-test/
在试验完成后,需经外观检测、绝缘电阻和耐压测试,零件性能无误方能出具试验合格报告.文章源自线束工程师之家-https://www.suncve.com/low-temperature-high-temperature-exposure-durability-test/
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温度和时间的关系文章源自线束工程师之家-https://www.suncve.com/low-temperature-high-temperature-exposure-durability-test/
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